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x射線檢測(cè)儀是一種利用射線時(shí)物體局部結(jié)構(gòu)的差異來(lái)改變物體對(duì)射線的衰減，然后檢測(cè)射線強(qiáng)度，判斷物體內(nèi)部缺陷和物質(zhì)分布的儀器。x射線檢測(cè)儀，廣泛應(yīng)用于工業(yè)判斷工件是否合格。
X射線機(jī)和直線加速器通常用于射線源，統(tǒng)稱為電子輻射發(fā)生器。X射線機(jī)的峰值射線能量和強(qiáng)度可調(diào)，實(shí)際應(yīng)用的峰值射線能量范圍從幾千伏到450千伏；直線加速器的峰值射線能量一般不可調(diào)節(jié)。實(shí)際應(yīng)用的峰值射線能量范圍從1~16MEV。雖然可以實(shí)現(xiàn)更高的能量，但主要用于實(shí)驗(yàn)。
電子輻射發(fā)生器的共同優(yōu)點(diǎn)是，它在切斷電源后不會(huì)產(chǎn)生射線，這對(duì)于工業(yè)場(chǎng)地的使用非常有利。電子輻射發(fā)生器的焦點(diǎn)尺寸是幾微米到幾毫米。在將高能電子束轉(zhuǎn)換為X射線的過(guò)程中，只有少量的能量轉(zhuǎn)換為X射線，大部分能量轉(zhuǎn)換為熱。焦點(diǎn)尺寸越小，陽(yáng)極目標(biāo)上的局部功率密度越大，局部溫度越高。實(shí)際應(yīng)用功率由陽(yáng)極目標(biāo)能夠長(zhǎng)期工作的功率密度決定。
因此，使用小焦點(diǎn)甚至微焦點(diǎn)射線源的功率或最大電壓低于大焦點(diǎn)射線源。電子輻射發(fā)生器的共同缺點(diǎn)是X射線光譜的多色性，這種連續(xù)光譜的X射線在衰減過(guò)程中會(huì)導(dǎo)致能量光譜硬化，導(dǎo)致各種與硬化有關(guān)的偽像。
同位素輻射源最大的優(yōu)點(diǎn)是能量光譜簡(jiǎn)單，具有功耗少、設(shè)備體積小、相對(duì)簡(jiǎn)單、輸出穩(wěn)定的特點(diǎn)。然而，其缺點(diǎn)是輻射源的強(qiáng)度較低。為了提高源的強(qiáng)度，必須增加源的體積，從而增加焦點(diǎn)的大小。實(shí)際應(yīng)用在工業(yè)CT中較少。
同步輻射最初是一個(gè)連續(xù)的光譜，幾乎單能的高強(qiáng)度X射線可以通過(guò)單色器獲得，因此它可以被制作成一個(gè)高空間分辨率的CT系統(tǒng)。然而，由于射線能量為20KEV到30KEV，它實(shí)際上只能用于在一些特殊場(chǎng)合檢測(cè)大約1毫米的小樣品。
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