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一、X射線概述
作為五大常規(guī)檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。目前射線檢測(cè)按照美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)（ASTM）的定義可以分為：照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、層析檢測(cè)和其它射線檢測(cè)技術(shù)四類。
X射線與自然光并沒有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見光。它能夠穿透可見光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測(cè)方法，比如利用膠片感光，來檢測(cè)透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別，并且散射比控制在一定范圍，我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對(duì)比度，從而發(fā)現(xiàn)缺陷。
二、X射線探傷原理
(1)x射線的特性 X射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，是一種光子。
x射線有下列特點(diǎn)：
①穿透性 x射線能穿透一般可見光所不能透過的物質(zhì)。其穿透能力的強(qiáng)弱，與x射線的波長(zhǎng)以及被穿透物質(zhì)的密度和厚度有關(guān)。x射線波長(zhǎng)愈短，穿透力就愈大;密度愈低，厚度愈薄，則x射線愈易穿透。
②電離作用 x射線或其它射線(例如γ射線)通過物質(zhì)被吸收時(shí)，可使組成物質(zhì)的分子分解成為正負(fù)離子，稱為電離作用，離子的多少和物質(zhì)吸收的X射線量成正比。通過空氣或其它物質(zhì)產(chǎn)生電離作用，利用儀表測(cè)量電離的程度就可以計(jì)算x射線的量。檢測(cè)設(shè)備正是由此來實(shí)現(xiàn)對(duì)零件探傷檢測(cè)的。X射線還有其他作用，如感光、熒光作用等。
(2)影像形成原理
X線影像形成的基本原理，是由于X線的特性和零件的致密度與厚度之差異所致。
三、應(yīng)用類型
射線檢測(cè)技術(shù)可以分為以下四種應(yīng)用類型。
（1）質(zhì)量檢測(cè)
可用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)。
（2）測(cè)量厚度
可用于在線、實(shí)時(shí)、非接觸厚度測(cè)量。
（3）物品檢查
可用于機(jī)場(chǎng)、車站、海關(guān)檢查，對(duì)結(jié)構(gòu)、尺寸測(cè)定。
（4）動(dòng)態(tài)研究
可用于彈道、爆炸、核技術(shù)、鑄造工藝等動(dòng)態(tài)過程研究。
四、X射線檢測(cè)優(yōu)勢(shì)
不損傷被檢物，方便實(shí)用，可達(dá)到其他檢測(cè)手段無(wú)法達(dá)到的獨(dú)特檢測(cè)效果，使用面寬，底片長(zhǎng)期存檔備查，便于分析事故，可以直觀的顯示缺陷圖像等。
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